要提高開(kāi)關(guān)電源的功率,就有必要分辯和大略估算各種損耗。開(kāi)關(guān)電源內部的損耗大致可分為四個(gè)方面:開(kāi)關(guān)損耗、導通損耗、附加損耗和電阻損耗。這些損耗一般會(huì )在有損元器件中一起呈現,下面將別離評論。
1、與功率開(kāi)關(guān)有關(guān)的損耗
功率開(kāi)關(guān)是典型的開(kāi)關(guān)電源內部最首要的兩個(gè)損耗源之一。損耗基本上可分為兩部分:導通損耗和開(kāi)關(guān)損耗。導通損耗是當功率器件已被注冊,且驅動(dòng)和開(kāi)關(guān)波形現已安穩往后,功率開(kāi)關(guān)處于導通情況時(shí)的損耗;開(kāi)關(guān)損耗是呈現在功率開(kāi)關(guān)被驅動(dòng),進(jìn)入一個(gè)新的作業(yè)情況,驅動(dòng)和開(kāi)關(guān)波形處于過(guò)渡進(jìn)程時(shí)的損耗。這些階段和它們的波形見(jiàn)圖1。
導通損耗可由開(kāi)關(guān)兩端電壓和電流波形乘積測得。這些波形都近似線(xiàn)性,導通期間的功率損耗由式(1)給出。
控制這個(gè)損耗的典型辦法是使功率開(kāi)關(guān)導通期間的電壓降最小。要達到這個(gè)目的,設計者有必要使開(kāi)關(guān)作業(yè)在飽滿(mǎn)狀態(tài)。這些條件由式(2a)和式(2b)給出,通過(guò)基極或柵極過(guò)電流驅動(dòng),確保由外部元器件而不是功率開(kāi)關(guān)自身對集電極或漏極電流進(jìn)行控制。
開(kāi)關(guān)電源轉化期間的開(kāi)關(guān)損耗就更雜亂,既有自身的因素,也有相關(guān)元器件的影響。與損耗有關(guān)的波形只能通過(guò)電壓探頭接在漏源極(集射極)端的示波器調查得到,溝通電流探頭可測量漏極或集電極電流。測量每一開(kāi)關(guān)瞬間的損耗時(shí),有必要運用帶屏蔽的短引線(xiàn)探頭,因為任何有長(cháng)度的非屏蔽的導線(xiàn)都或許引進(jìn)其他電源宣告的噪聲,然后不能準確顯現真實(shí)的波形。一旦得到了好的波形,就可用簡(jiǎn)單的三角形和矩形分段求和的辦法,大略算出這兩條曲線(xiàn)所包圍的面積。例如圖1的注冊損耗可用式(3)核算。
這個(gè)效果只是功率開(kāi)關(guān)注冊期間的損耗值,再加上關(guān)斷和導通損耗可以得到開(kāi)關(guān)期間的總損耗值。
2、與輸出整流器有關(guān)的損耗
在典型的非同步整流器開(kāi)關(guān)電源內部的總損耗中,輸出整流器的損耗占據了悉數損耗的40%-65%。所以理解這一節十分重要。從圖2中可看到與輸出整流器有關(guān)的波形。
整流器損耗也可以分紅三個(gè)部分:注冊損耗、導通損耗、關(guān)斷損耗。
整流器的導通損耗便是在整流器導通并且電流電壓波形穩定時(shí)的損耗。這個(gè)損耗的按捺是通過(guò)挑選流過(guò)必定電流時(shí)最低正向壓降的整流管而完成的。PN二極管具有更平坦的正向V-I特性,但電壓降卻比較高(0.7~1.1V);肖特基二極管轉機電壓較低(O.3~0.6V),但電壓一電流特性不太陡,這意味著(zhù)跟著(zhù)電流的增大,它的正向電壓的添加要比PN二極管更快。將波形中的過(guò)渡進(jìn)程分段轉化成矩形和三角形面積,運用式(3)可以計算出這個(gè)損耗。
剖析輸出整流器的開(kāi)關(guān)損耗則要雜亂得多。整流器自身固有的特性在部分電路內會(huì )引發(fā)許多問(wèn)題。
注冊期間,過(guò)渡進(jìn)程是由整流管的正向恢復特性抉擇的。正向恢復時(shí)間tfrr是二極管兩端加上正向電壓到開(kāi)端流過(guò)正向電流時(shí)所用的時(shí)間。關(guān)于PN型快恢復二極管而言,這個(gè)時(shí)間是5~15ns。肖特基二極管因為自身固有的更高的結電容,因而有時(shí)會(huì )表現出更長(cháng)的正向恢復時(shí)間特性。盡管這個(gè)損耗不是很大,但它能在電源內部引起其他的問(wèn)題。正向恢復期間,電感和變壓器沒(méi)有很大的負載阻抗,而功率開(kāi)關(guān)或整流器仍處于關(guān)斷狀態(tài),這使得貯存的能量產(chǎn)生振動(dòng),直至整流器最終開(kāi)端流過(guò)正向電流并鉗位功率信號。
關(guān)斷瞬間,反向恢復特性起首要效果。當反向電壓加在二極管兩端時(shí),PN二極管的反向恢復特性由結內的載流子抉擇,這些遷移率受限的載流子需求從本來(lái)進(jìn)入結內的反方向出去,然后構成了流過(guò)二極管的反向電流。與此相關(guān)的損耗或許會(huì )很大,因為在結區電荷被耗盡前,反向電壓會(huì )敏捷上升得很高,反向電流通過(guò)變壓器反射到一次側功率開(kāi)關(guān),添加了功率管的損耗。以圖1為例,可以看到注冊期間的電流峰值。
類(lèi)似的反向恢復特性也會(huì )出現在高電壓肖特基整流器中,這一特性不是由載流子引起的,而是因為這類(lèi)肖特基二極管具有較高的結電容所造成的。所謂高電壓肖特基二極管便是它的反向擊穿電壓大于60V。
3、與濾波電容有關(guān)的損耗
輸入輸出濾波電容并不是開(kāi)關(guān)電源的首要損耗源,盡管它們對電源的作業(yè)壽數影響很大。假如輸入電容挑選不正確的話(huà),會(huì )使得電源作業(yè)時(shí)達不到它實(shí)踐應有的高功率。
每個(gè)電容器都有與電容相串聯(lián)的小電阻和電感。等效串聯(lián)電阻(ESR)和等效串聯(lián)電感(ESL)是由電容器的結構所導致的寄生元件,它們都會(huì )阻止外部信號加在內部電容上。因而電容器在直流作業(yè)時(shí)性能最好,但在電源的開(kāi)關(guān)頻率下性能會(huì )差許多。
輸入輸出電容是功率開(kāi)關(guān)或輸出整流器產(chǎn)生的高頻電流的唯一來(lái)歷(或貯存處),所以通過(guò)調查這些電流波形可以合理地承認流過(guò)這些電容ESR的電流。這個(gè)電流不可避免地在電容內產(chǎn)生熱量。設計濾波電容的首要任務(wù)便是確保電容內部發(fā)熱足夠低,以確保產(chǎn)品的壽數。式(4)給出了電容的ESR所產(chǎn)生的功率損耗的計算式。
不但電容模型中的電阻部分會(huì )引起問(wèn)題,并且假如并聯(lián)的電容器引出線(xiàn)不對稱(chēng),引線(xiàn)電感會(huì )使電容內部發(fā)熱不均衡,然后縮短溫度最高的電容的壽數。
4、 附加損耗
附加損耗與所有運轉功率電路所需的功能器件有關(guān),這些器件包含與控制IC相關(guān)的電路以及反響電路。比較于電源的其他損耗,這些損耗一般較小,但是可以作些剖析看看是否有改善的或許。
首先是發(fā)起電路
發(fā)起電路從輸入電壓取得直流電流,使控制IC和驅動(dòng)電路有滿(mǎn)足的能量發(fā)起電源。假如這個(gè)發(fā)起電路不能在電源發(fā)起后切斷電流,那么電路會(huì )有高達3W的繼續的損耗,損耗巨細取決于輸入電壓。
第二個(gè)首要方面是功率開(kāi)關(guān)驅動(dòng)電路。
假如功率開(kāi)關(guān)用雙極型功率晶體管,則基極驅動(dòng)電流有必要大于晶體管集電極e峰值電流除以增益(hFE)。功率晶體管的典型增益在5-15之間,這意味著(zhù)假如是10A的峰值電流,就要求0.66~2A的基極電流?;錁O之間有0.7V壓降,假如基極電流不是從十分挨近0.7V的電壓取得,則會(huì )產(chǎn)生很大的損耗。
功率MOSFET驅動(dòng)功率比雙極型功率晶體管高。MOSFET柵極有兩個(gè)與漏源極相連的等效電容,即柵源電容Ciss和漏源電容Crss。MOSFET柵極驅動(dòng)的損耗來(lái)自于注冊MOSFET時(shí)輔佐電壓對柵極電容的充電,關(guān)斷MOSFET時(shí)又對地放電。柵極驅動(dòng)損耗核算由式(5)給出。
對這個(gè)損耗,除了挑選Ciss和Crss值較低的MOSFET,然后有或許略微降低最大柵極驅動(dòng)電壓以外,沒(méi)有太多的辦法。
5、與磁性元件有關(guān)的損耗
對一般設計工程師而言,這部分十分雜亂。因為磁性元件術(shù)語(yǔ)的特殊性,以下所述的損耗首要由磁心生產(chǎn)廠(chǎng)家以圖表的方式標明,這十分便于運用。這些損耗列于此處,使人們可以對損耗的性質(zhì)作出評價(jià)。
與變壓器和電感有關(guān)的損耗首要有三種:磁滯損耗、渦流損耗和電阻損耗。在設計和結構變壓器和電感時(shí)可以控制這些損耗。
磁滯損耗與繞組的匝數和驅動(dòng)方式有關(guān)。它決議了每個(gè)作業(yè)周期在B-H曲線(xiàn)內掃過(guò)的面積。掃過(guò)的面積便是磁場(chǎng)力所作的功,磁場(chǎng)力使磁心內的磁疇重新排列,掃過(guò)的面積越大,磁滯損耗就越大。該損耗由式(6)給出。
如公式中所見(jiàn),損耗是與作業(yè)頻率和最大作業(yè)磁通密度的二次方成正比。盡管這個(gè)損耗不如功率開(kāi)關(guān)和整流器內部的損耗大,但是處理不妥也會(huì )成為一個(gè)問(wèn)題。在100kHz時(shí),Bmax應設定為資料飽滿(mǎn)磁通密度Bsat的50%。在500kHz時(shí),Bmax應設定為資料飽滿(mǎn)磁通密度Bsat的25%。在1MHz時(shí),Bmax應設定為資料飽滿(mǎn)磁通密度Bsat的10%。這是根據鐵磁資料在開(kāi)關(guān)電源(3C8等)中所表現出來(lái)的特性決議的。
渦流損耗比磁滯損耗小得多,但跟著(zhù)作業(yè)頻率的提高而敏捷添加,如式(7)所示。
渦流是在強磁場(chǎng)中磁心內部大范圍內感應的環(huán)流。一般設計者沒(méi)有太多辦法來(lái)減少這個(gè)損耗。
電阻損耗是變壓器或電感內部繞組的電阻產(chǎn)生的損耗。有兩種方式的電阻損耗:直流電阻損耗和集膚效應電阻損耗。直流電阻損耗由繞組導線(xiàn)的電阻與流過(guò)的電流有效值二次方的乘積所決議。集膚效應是因為在導線(xiàn)內強溝通電磁場(chǎng)效果下,導線(xiàn)中心的電流被“推向”導線(xiàn)表面而使導線(xiàn)的電阻實(shí)踐添加所造成的,電流在更小的截面中活動(dòng)使導線(xiàn)的有效直徑顯得小了。式(8)給出了這兩個(gè)損耗在一個(gè)表達式中的計算式。
漏感(用串聯(lián)于繞組的小電感標明)使一部分磁通不與磁心交鏈而漏到周?chē)目諝夂唾Y猜中。它的特性并不受與之相關(guān)的變壓器或電感的影響,因而繞組的反射阻抗并不影響漏感的性能。
漏感會(huì )帶來(lái)一個(gè)問(wèn)題,因為它沒(méi)有將功率傳遞到負載,而是在周?chē)脑挟a(chǎn)生振動(dòng)能量。在變壓器和電感的結構設計中,要控制繞組的漏感巨細。每一個(gè)的漏感值都會(huì )不同,但能控制到某個(gè)額定值。
一些減少繞組漏感的通用閱歷法則是:加長(cháng)繞組的長(cháng)度、離磁心間隔更近、繞組之間的緊耦合技術(shù),以及鄰近的匝比(如挨近l:1)。對一般用于DC-DC變換器的E-E型磁心,預計的漏感值是繞組電感的3%~5%。在離線(xiàn)式變換器中,一次繞組的漏感或許高達繞組電感的12%,假如變壓器要滿(mǎn)足嚴格的安全規程的話(huà)。用來(lái)絕緣繞組的膠帶會(huì )使繞組更短,并使繞組遠離磁心和其他繞組。
后邊可以看到,漏感引起的附加損耗可以被運用。
在直流磁鐵的運用場(chǎng)合,沿磁心的磁路一般需求有一個(gè)氣隙。在鐵氧體磁心中,氣隙是在磁心的中部,磁通從磁心的一端流向另一端,盡管磁力線(xiàn)會(huì )從磁心的中心向外散開(kāi)。氣隙的存在產(chǎn)生了一塊密布的磁通區域,這會(huì )引起挨近線(xiàn)圈或靠近氣隙的金屬部件內的渦流活動(dòng)。這個(gè)損耗一般不是很大,但很難承認。
06 開(kāi)關(guān)電源內的首要寄生參數概述
寄生參數是電路內部實(shí)踐元件無(wú)法意料的電氣特性,它們一般會(huì )貯存能量,并對自身元件起反效果而產(chǎn)生噪聲和損耗。對設計者來(lái)說(shuō),分辯、定量、減小或運用這些反效果是一個(gè)很大的應戰。在溝通情況下,寄生特性愈加明顯。典型的開(kāi)關(guān)電源內部有兩個(gè)首要的、存在較大溝通值的節點(diǎn),第一是功率開(kāi)關(guān)的集電極或漏極;第二是輸出整流器的陽(yáng)極。有必要要點(diǎn)關(guān)注這兩個(gè)特別的節點(diǎn)。
07 變換器內的首要寄生參數
在所有開(kāi)關(guān)電源中,有一些常見(jiàn)的寄生參數,在調查變換器內首要溝通節點(diǎn)的波形時(shí),可以明顯看到它們的影響。有些器件的數據資猜中,甚至給出了這些參數,如MOSFET的寄生電容。兩種常見(jiàn)變換器的首要寄生參數見(jiàn)圖3。
有些寄生參數已明晰認義,如MOSFET的電容,其他一些離散的寄生參數可以用會(huì )集參數標明,使建模變得愈加簡(jiǎn)單。試圖承認那些沒(méi)有明晰認義的寄生參數的值是好不簡(jiǎn)單的,一般用一個(gè)閱歷值承認,換句話(huà)說(shuō),在進(jìn)行軟開(kāi)關(guān)設計時(shí),元器件的挑選以能得到最佳結果為原則來(lái)進(jìn)行。在線(xiàn)路圖中,適合的地方放置寄生元件十分重要,因為電氣支路只在變換器作業(yè)的一部分時(shí)間內起效果。例如,整流器的結電容只要在整流器反向偏置時(shí)會(huì )很大,而當二極管正向偏置時(shí)就消失了。表l列出了一些簡(jiǎn)單承認的寄生參數和產(chǎn)生這些參數的元器件,以及這些值的大致規模。某些特別的寄生參數值可以從特定元器件的數據資猜中取得。
印制電路板(PCB)對寄生參數的影響無(wú)處不在,好的PCB布局規矩可以盡量減少這些影響。
流過(guò)尖峰電流的印制線(xiàn)對由任一印制線(xiàn)所產(chǎn)生的電感和電容很活絡(luò ),所以這些線(xiàn)有必要短而粗。存在溝通高電壓的PCB焊點(diǎn),如功率開(kāi)關(guān)的漏極或集電極或許整流管的陽(yáng)極,極易與接近印制線(xiàn)產(chǎn)生耦合電容,使溝通噪聲耦合到鄰近的印制線(xiàn)中。通過(guò)“過(guò)孔”連接可以使溝通信號印制線(xiàn)的上底層都流過(guò)相同的信號。其他寄生參數的影響一般可歸到相鄰的寄生元件中。
搞清楚構成一個(gè)典型變換器的每個(gè)元器件上的寄生參數的性質(zhì),將有助于承認磁性元件參數、規劃PCB、規劃EMI濾波器等。這是所有開(kāi)關(guān)電源規劃中最難的一部分。